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頻率

20Hz~5MHz

20Hz~10MHz

20Hz~15MHz

20Hz~20MHz

20Hz~30MHz

20Hz~50MHz

20Hz~120MHz

測試參數

L（電感）、Q（品質因素）、D（消耗因素）、C（電容）、Z（阻抗）、X（電抗）、ACR（交流電阻）、θ（相位角）、Y（導納）、G（電導）、 B（電納）

參數范圍

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

G, Y, B:  0.01mS ~ >2kS

L:  0.1nH ~ > 2kH

C:  1Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000； Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180^o~+180^o

電平

10mV~1Vrms; 200μA~20mA

輸出阻抗

50Ω

直流疊加

內置偏壓：0~100mV/0 ~ +40V; -40V ~ +40V（選配）

外加偏電流：1mA ~ 80A(選配)

測試模式

電表模式（測試值顯示）/ 分析模式（掃描曲線）

諧振頻率測試

測試值 / 偏差值

測試值下載 / CSV格式

等效電路分析測試（選配）WK65120B為標配

絕緣材料介電常數測試和磁性材料磁導率測試

分類挑選（選配） / 多步驟測試（選配） / 震蕩器 / 壓電組件測試（選配）

通信接口

GPIB, LAN, Handler / PASS, FAIL（選配）

內存

20組

溫濕度

溫度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（儲存），濕度>80%

輸入電壓

使用電源90~264Vac（可自動切換），頻率47~63Hz

標準配件

操作手冊，電源線，1J1011測試夾具或1J1012測試夾具，U盤

選配

/M Multi Measurement Mode（多步測量模式）

/B2 Binning Opto-Coupled（光藕分選）

/L Data Logger Mode（數據記錄模式）

/D1 0 ~+40Vdc bias（內置）

/E Equivalent Circuit Analysis（等效電路分析）

/D2 -40V ~+40Vdc bias（內置）

/B1 Binning（分選）

訂購65120B可附贈選配D1/D2其中之一

1J1012  SMD二線式測試治具

5-654-7010 Transfer Standard Kit-Dip（插件式校準件）

1J1014  SMD四線式測試治具

5-654-7011 Transfer Standard Kit-SMD（SMD標準件）

1EVA40120 SMD鑷子式測試治具

尺寸/凈重量

尺寸(mm)190/H×440/W×525/D    凈重量14.5Kg