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頻率

20Hz~200kHz

20Hz~500kHz

20Hz~1MHz

測試參數

L（電感）、Q（品質因素）、D（消耗因素）、C（電容）、Z（阻抗）、X（電抗）、ACR（交流電阻）、θ（相位角）、Y（導納）、G（電導）、 B（電納）、Turn ratio（圈數比）

參數范圍

Z, R, X:  0.01m > 2GΩ

Rdc:0.1mΩ~>50kΩ

L:  1nH ~ > 1kH

C:  5Ff ~ >1F

D:  0.00001 ~ >1000

Q:  0.00001 ~ >1000

θ:  -180^o~+180^o

Turn ratio Np-Ns/Ns-Np/ Ns-Np=n

測試電平

1mV~10Vrms; 50μA~200mA

輸出阻抗

50Ω

直流疊加

內置1mA—1A DC Bias或1mA—2A DC Bias(選配)

外置3265B：25mA-50A

外置3265B：25mA-125A

測試模式

測試值讀取 / EXCEL格式

多頻率測試

差值測試（DELTA）(選配)

可搭配MescoView或FactoryView電腦連機軟件

掃描曲線（選配）

多點DC BIAS測試

自動測試（Sequence）

絕緣電阻測試（選配）

通信接口

GPIB / Handler / PASS, FAIL（選配）

溫濕度

溫度0℃~40℃（操作）,-20℃~60℃（儲存），濕度>80%

輸入電壓

使用電源110/230Vac;50~400Hz

標準配件

操作手冊，電源線，高頻校準電容（僅3260B）

配件

1J1012  SMD二線式測試治具                   1EV1505  四線式測試夾具

1J1014  SMD四線式測試治具                   1EV1905A  探針式測試治具

1EVA40100  測試夾（細齒）                    1EV1006  DIP四線式測試治具（1MHz）

1EVA40180  測試夾（粗齒）                    4N3260TS 高頻校準電容

1EVA40120 SMD鑷子式測試治具

選配

/A 1mA-1A Internal DC Bias（內置1mA-1A偏置電流）      

/B GPIB (IEEE-488) Interface（GPIB接口）

/U 1mA - 2A Internal DC Bias （1mA-2A內置偏置電流）    

/G Analysis Function (graphs)（分析功能）（僅3260B）

/N Insulation Resistance（絕緣電阻測試）（僅3260B）  

/T LF Telecom Function（通信平衡測試）（僅3260B）

/S Faster DC bias current ramp up and ramp down (NEW)（快速加偏置電流和降偏置電流） 

/D Binning（分選）

尺寸/凈重量

尺寸(mm)150/H×440/W×520/D,       凈重量11Kg